マイグレーションテスター
ハイサイドマイグレーションテスター MIG-9000
- 1ch/1電源/1計測回路をマイグレーションテスターに初めて採用したIMVがお送りする絶縁評価技術の集大成「MIG シリーズ」の第2弾！！多層基板・部品内蔵基板の層間、内蔵キャパシタ等の絶縁評価には「真のハイサイドマイグレーション」テスターが必須です。
特長
- ハイサイド測定の基本であるオープンケルビン検知をハイサイド側・リターン側共に全ch標準装備
- 測定データの保存にメモリカードを採用
- 小型ディスプレイ搭載！！ホストＰＣが無くても動作状態、異常内容を表示可能
- Ｉ／Ｆ試験槽のインターロック、温・湿度の電流入力を標準装備
- Cx、tanδ測定もオプションボードで対応可能
ハード仕様
| モデル | MIG-9000/50 |
|---|---|
| 印加電圧 | +01.00V～+29.99V（0.01V単位） |
| チャネル数 | 1ボードあたり10チャネル |
|
最大増設チャンネル |
300ＣＨ |
| 絶縁抵抗測定範囲 | 105Ω～1014Ω（100V印加時） |
| 直流電流測定範囲 及び測定レンジ |
0.1ｐＡ～500μＡ（6測定レンジ） ※固定レンジ・オートレンジ選択可 （0.1ｐＡ～5ｎＡ／10ｐＡ～50ｎＡ／１00pＡ～500nＡ／ 1ｎＡ～5μＡ／１0nＡ～50μＡ／100ｎＡ～500μＡ） |
| 電流値測定精度 100V 印可時 対レンジフルスケール |
5ｎＡレンジ： ±5％±100ｐA 500ｎＡレンジ： ±2％±5ｎA 5μＡレンジ： ±1％±10ｎA 50μＡレンジ： ±0.5％±0.1μA 500μＡレンジ： ±0.5％±1μA |
| バイアス印加方法 | チャンネル独立バイアス方式 |
| バイアス印加電圧設定 | +00.01V～+29.99V 任意設定（5チャンネル/グループ単位） +030.0V～+300.0V 任意設定（5チャンネル/グループ単位） |
| バイアス印加アンプ | オペアンプ方式 出力ノイズ：最大±5ｍV 高圧アンプ安定化電源として直列型高圧安定化電源を採用 高圧オペアンプによる100μｓｅｃオーダーの高速レスポンス |
| バイアス印加電圧精度 | ±（ フルスケールの0.3%＋0.5V） |
| バイアス電圧測定精度 | ±（ フルスケールの0.3%＋0.5V） |
| 最大試験可能時間 | 9,999時間 |
| 測定方法 | 全チャンネルダイレクト測定（メカニカル・リレーは使用していません） 高速16ビットA/Dコンバータ（各CH） |
| 測定回路 | ハイサイド電流計測 |
| 電流測定ケーブル | HF/HS&HG：アクティブガード LF/LS&LG |
| ケーブルオープン検出機能 | 計測／出力ケーブルのコネクター脱落を検出しアラーム警告 ケルビン対応 |
| 収録データ内容 | 収録時間・経過時間・抵抗値・印加電圧 温度／湿度（要チャンバー通信オプション） |
| パソコン | OS：WindowsXP（Windows7対応予定）産業用を推奨 |
| マイグレーション測定モード | エンドモード ：マイグレーション発生点で終了。 トリガーモード ：マイグレーション発生閾値で開始、終了閾値で試験終了 タイムモード（１）：マイグレーション発生閾値、 終了閾値で発生回数をカウント（最大９９９回） タイムモード（2）：マイグレーション発生閾値、 終了閾値で発生回数をカウント（エンドレス） |
| アナログ接点 | 4-20mA、0-5V：各2CH、ホストPCと通信 |
| 電源 | ＡＣ100V 50/60Hz |
| 収納ユニット外形寸法 | 249（H）x416（W）x510（D） |
※MIG-8600Bの機能も継承しています。［二重構造アクティブガードケーブル］［印加電圧のモニタリング］
