絶縁劣化評価試験器

HiP-1000/2000/3000

高電圧・微弱電流をリアルタイム計測
IMV の最大の特長である 1ch/1 電源 /1 計測回路方式及び二重構造アクティブガードケーブルを採用し、高電圧印加を実現しました。
HiP-1000/2000/3000

お問い合わせ

特長

■ 電流制限で試験を正確に
高電圧印加でありながら低電圧の制限ができます。
■ 誤作動防止
高電圧印加のため、誤動作防止のインターロックを装備。人為的なミスを防ぎます。
■ 最大 256ch まで増設可能(1 筐体:32ch)
1000V でありながら、最大 256ch まで増設可能です。

仕様

  HiP-1000 HiP-2000 HiP-3000
印加電圧 +1.0V ~ +1000V
(1V 単位)
+100V ~ +2000V
(10V 単位)
+100V ~ +3000V
(10V 単位)
チャンネル数
(ボードあたり)
8ch 4ch 4ch
最大増設チャンネル 256ch 32ch 32ch
絶縁抵抗測定範囲 105Ω~ 1014Ω(100V 印加時)
測定電流測定範囲 0.1pA~500uA(5レンジ)
※固定レンジ・オートレンジ選択可能
(0.1pA~5nA/10pA~500nA/100pA~5µA/10nA~50µA/100nA~5000µA)
測定レンジ
100V印加時
電流測定精度
5nAレンジ : ±(5%fs +100pA)
500nAレンジ : ±(2%fs +5nA)
5µAレンジ : ±(1%fs +10nA)
50µAレンジ : ±(0.5%fs +0.1µA)
500µAレンジ : ±(0.5%fs +1µA)
バイアス印加方法 チャンネル独立バイアス方式(1パワーサプライ→1ch)
バイアス印加電圧設定 +1.0V ~ +1000V
(1V 単位)
+100V ~ +2000V
(10V 単位)
+100V ~ +3000V
(10V 単位)
バイアス印加アンプ オペアンプ方式
出力ノイズ : フルスケール0.05%
高圧アンプ安定化電源として直列型高圧安定化電源を採用
高圧オペアンプによる100µsec オーダーの高速レスポンス
バイアス印加電圧精度 ±(0.3%+0.5V)フルスケール ±(0.4%+0.5V)フルスケール ±(0.5%+0.5V)フルスケール
バイアス電圧測定精度 ±(0.3%+0.5V)フルスケール ±(0.4%+0.5V)フルスケール ±(0.5%+0.5V)フルスケール
最大試験可能時間 9,999 時間
測定回路 絶縁抵抗方式 : ローサイド電流計測
電流測定ケーブル 二重構造アクティブガードケーブル
ケーブルオープン
検知機能
計測ケーブルのコネクター脱落を検知しアラーム警告・測定停止
収録データ内容 収録時間・経過時間・抵抗値・印加電圧・測定電流・温度 / 湿度(要チャンバー通信オプション)
パソコン OS : Windows 10 対応
マイグレーション
測定モード
エンドモード : マイグレーション発生点で終了
トリガーモード : マイグレーション発生しきい値で開始、終了しきい値で試験終了
タイムモード : マイグレーション発生しきい値、終了しきい値で発生カウント(数値指定 50 回)
電源 AC100V 50/60Hz 約 100VA/ラック
収納ユニット外形寸法 W430 × D550 × H635mm(突起部を除く)
質量 約 35kg

お問い合わせ